?光電開(kāi)關(guān)是光電接近開(kāi)關(guān)的簡(jiǎn)稱，它是利用被檢測(cè)物對(duì)光束的遮擋或反射，由同步回路接通電路，從而檢測(cè)物體的有無(wú)。那么，臺(tái)灣光電開(kāi)關(guān)在使用中有以下幾種常見(jiàn)的檢測(cè)方式：
對(duì)射式檢測(cè)
原理：對(duì)射式光電開(kāi)關(guān)由發(fā)射器和接收器組成，發(fā)射器發(fā)出的光線直接照射到接收器上。當(dāng)有物體遮擋在發(fā)射器和接收器之間時(shí)，接收器接收到的光信號(hào)發(fā)生變化，從而觸發(fā)開(kāi)關(guān)動(dòng)作，檢測(cè)到物體的存在。
特點(diǎn)：檢測(cè)距離遠(yuǎn)，可達(dá)到數(shù)米甚至數(shù)十米；對(duì)物體的檢測(cè)精度高，不受物體顏色、材質(zhì)等因素影響，只要能遮擋光線就能被檢測(cè)到；抗干擾能力較強(qiáng)，適合在灰塵、煙霧等環(huán)境相對(duì)惡劣的場(chǎng)合使用。
應(yīng)用場(chǎng)景：常用于大型設(shè)備的限位檢測(cè)、物體的通過(guò)性檢測(cè)，如自動(dòng)化生產(chǎn)線中物料的進(jìn)出檢測(cè)、大型倉(cāng)庫(kù)的大門(mén)防護(hù)檢測(cè)等。
漫反射式檢測(cè)
原理：漫反射式光電開(kāi)關(guān)的發(fā)射器和接收器位于同一側(cè)，發(fā)射器發(fā)出的光線照射到物體上后，物體表面會(huì)將光線漫反射回來(lái)，接收器接收到漫反射光后觸發(fā)開(kāi)關(guān)動(dòng)作。
特點(diǎn)：安裝方便，無(wú)需在物體的另一側(cè)安裝接收器，只需將光電開(kāi)關(guān)安裝在物體的前方即可；可以檢測(cè)不同顏色、不同材質(zhì)的物體，但檢測(cè)距離相對(duì)較短，一般在數(shù)厘米到數(shù)米之間；對(duì)環(huán)境光線較為敏感，需要根據(jù)實(shí)際環(huán)境進(jìn)行調(diào)整。
應(yīng)用場(chǎng)景：廣泛應(yīng)用于物料分揀、包裝檢測(cè)、機(jī)器人避障等領(lǐng)域，例如在物流倉(cāng)庫(kù)中，用于檢測(cè)貨物是否放置在指定位置；在自動(dòng)包裝機(jī)上，檢測(cè)包裝物品的有無(wú)。
鏡面反射式檢測(cè)
原理：鏡面反射式光電開(kāi)關(guān)也叫反射板式光電開(kāi)關(guān)，發(fā)射器和接收器同樣位于同一側(cè)，但需要在檢測(cè)物體的對(duì)面安裝一塊反射板。發(fā)射器發(fā)出的光線經(jīng)反射板反射后回到接收器，當(dāng)物體遮擋在光電開(kāi)關(guān)與反射板之間時(shí)，光線被遮擋，接收器接收不到反射光，從而觸發(fā)開(kāi)關(guān)動(dòng)作。
特點(diǎn)：檢測(cè)距離適中，一般比漫反射式遠(yuǎn)，比射式近；對(duì)物體的顏色和材質(zhì)有一定要求，因?yàn)椴煌伾筒馁|(zhì)的物體對(duì)光線的反射率不同，可能會(huì)影響檢測(cè)效果；受環(huán)境光線影響較大，需要注意安裝位置和角度，避免外界光線干擾。
應(yīng)用場(chǎng)景：常用于小型物體的檢測(cè)、透明物體的檢測(cè)以及需要精確控制距離的場(chǎng)合，如電子元件的插件檢測(cè)、玻璃制品的生產(chǎn)線檢測(cè)等。
槽式檢測(cè)
原理：槽式光電開(kāi)關(guān)通常由一個(gè) U 型槽和安裝在槽兩側(cè)的發(fā)射器與接收器組成。當(dāng)物體進(jìn)入槽內(nèi)時(shí)，會(huì)遮擋住發(fā)射器發(fā)出的光線，使接收器無(wú)法接收到光信號(hào)，從而產(chǎn)生開(kāi)關(guān)信號(hào)變化，實(shí)現(xiàn)對(duì)物體的檢測(cè)。
特點(diǎn)：檢測(cè)精度高，能夠準(zhǔn)確檢測(cè)物體是否進(jìn)入槽內(nèi)，對(duì)物體的位置和尺寸有較好的限定作用；響應(yīng)速度快，適用于高速運(yùn)動(dòng)物體的檢測(cè)；結(jié)構(gòu)緊湊，安裝空間小。
應(yīng)用場(chǎng)景：常用于小型物體的計(jì)數(shù)、位置檢測(cè)以及自動(dòng)化生產(chǎn)線上的零部件裝配檢測(cè)等，例如在電子元器件的生產(chǎn)線上，用于檢測(cè)芯片等微小零件的排列和計(jì)數(shù)。